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用于Functional Test 的IC测试分类,具有高产能、高稳定性。支持IC芯片在不同环境(常温、高温),进行8site 并行测试分选。

ModelEXCEED6040EXCEED6080EXCEED6040HEXCEED6080H
Test Layout1/2/4 site1/2/4/8 site1/2/4 site1/2/4/8 site
Power SupplySingle phase 220V 50/60Hz 30ASingle phase 220V 50/60Hz 50A
Temp typeAmbient tempHigh/Ambient temp
Pick-up head2x2 module
UPHMax.8500
Index TimeMin.380ms
Contact Force120KG (Option: 240KG)
SOCKET Opening210mmx140 mm
Dimension1700Lx1400Wx1890H(mm)
WeightAppox.1000kg
PKG TypeQFN,QFP,BGA,LGA,PLCC,PGA, CSP,TSOP etc.
PKG SizeFrom 2x2 to 70x70 mm
Jam Rate<1 /10000
Tray TypeJdec
Temp Range+50degC to +100degC ±2degC; +100degC to +130degC ±3degC
Num Of SortingAuto Tray×3,Fix Tray×3
Tester InterfaceGPIB ,TTL, RS232 ,Network
IC测试设备提供商
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